4to Ciclo de Seminarios IEEE EDS:Películas de oxicarburo de silicio para dispositivos electroluminiscentes obtenidas por la técnica HWCVD usando precursores de base orgánica
IEEE EDS - Fourth Mexico Technical Meeting 2025 (MTM_4-2025)
Mexico Chapter and CINVESTAV-IPN Student Branch Chapter
Center for Research and Advanced Studies of the National Polytechnic Institute
El capítulo IEEE EDS Cinvestav tiene el placer de continuar con su ciclo de seminarios mensuales, donde expertos comparten temas de interés en el ámbito de los dispositivos electrónicos y la ciencia de materiales.
En esta cuarta sesión, presentamos el tema:
"Películas de oxicarburo de silicio para dispositivos electroluminiscentes obtenidas por la técnica HWCVD usando precursores de base orgánica",
Donde se presentará la síntesis y caracterización de películas de oxicarburo de silicio luminiscentes obtenidas por HWCVD, así como su potencial en dispositivos electroluminiscentes tipo MOS.
¡Acompáñanos y sé parte de esta iniciativa de difusión del conocimiento!
Date and Time
Location
Hosts
Registration
- Date: 29 May 2025
- Time: 10:00 PM UTC to 11:30 PM UTC
-
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- Av Instituto Politécnico Nacional 2508, San Pedro Zacatenco, Gustavo A. Madero, Ciudad de México, CDMX
- Ciudad de México, Distrito Federal
- Mexico 07360
- Building: Sección de Electrónica del Estado Solido Aula: bunker
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- Contact Event Hosts
-
Ing. Anisleidy Broche; anisleidy.broche.f@cinvestav.mx;
Dra Maricela Meneses Meneses; maricela.meneses.m@cinvestav.mx;
M.C Ramon Eduardo Cortina; ramon.cortina@cinvestav.mx;
- Co-sponsored by Section of Solid-State Electronics (SEES), CINVESTAV-IPN.
Speakers
Dr. Juan
Películas de oxicarburo de silicio para dispositivos electroluminiscentes obtenidas por la técnica HWCVD usando precursores de base orgánica
Dr. Juan Ramón Ramos Serrano
Técnico en Investigación Titular en el área de equipos de plasma del Laboratorio de microelectrónica del INAOE
Resumen:
La fotónica del silicio surge como una alternativa a la electrónica convencional para las comunicaciones digitales, con la cual se pueden transferir datos a distancias más grandes, a mayor velocidad y con un menor consumo de energía. Sin embargo, resulta de vital importancia que estas nuevas tecnologías sean implementadas con procesos compatibles con la infraestructura actual de la tecnología CMOS. El principal reto tecnológico es el desarrollo de fuentes emisoras de luz basadas en silicio, ya que éste presenta una baja eficiencia debido a sus propiedades intrínsecas. En esta plática se describe la obtención de películas luminiscentes de oxicarburo de silicio (SiOxCy) por la técnica de CVD asistido por filamento caliente (HWCVD), destacando el uso de precursores de base orgánica (monometilsilano y tetraetilortosilicato). Las películas se caracterizaron por FTIR, XPS, XRD, PL, EPL y TRPL para determinar el origen de la luminiscencia. Los resultados sugieren que para ambos precursores la luminiscencia es producida por efectos de confinamiento cuántico en nc-Si y defectos en la matriz de SiOC. Se implementaron estructuras electroluminiscentes tipo capacitor MOS. El análisis óptico y eléctrico de las estructuras reveló que los mecanismos de emisión y conducción están relacionados con transiciones en estados intermedios de la banda prohibida.
Biography:
Dr. Juan Ramón Ramos Serrano
Licenciado en electrónica por la Benemérita Universidad Autónoma de Puebla (BUAP) en 2012. En 2015 obtuvo el grado de Maestro en Dispositivos semiconductores en el Instituto de Ciencias de la BUAP. En 2020 obtiene el grado de Doctor en Nanociencias y Nanotecnología en el Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del IPN. En 2021 realizó una estancia posdoctoral en el Instituto de Física “Luis Rivera Terrazas” de la BUAP. Posteriormente, de 2022 a 2024 realizó una estancia posdoctoral en la coordinación de Electrónica del Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE). Actualmente se desempeña como Técnico en Investigación Titular en el área de equipos de plasma del Laboratorio de microelectrónica del INAOE. Sus principales líneas de investigación son la obtención películas delgadas y materiales nanoestructurados basados en silicio por las técnicas de CVD y sputtering.
Agenda
Horario | Actividad | Participante |
16:00 - 16:10 |
Presentación del evento |
Presentador y facilitador |
16:10 - 17:30 |
Películas de oxicarburo de silicio para dispositivos electroluminiscentes obtenidas por la técnica HWCVD usando precursores de base orgánica |
Dr. Juan Ramón Ramos Serrano |
MTM_4-2025 is an IEEE-EDS sponsored technichal meeting. Co-sponsored by the Section of Solid-Sate Electronics at the Center for Research and Advanced Studies of the National Polytechnic Institute.